在自动化产线或半导体工厂FAB内，存在数据采集及监管不足，nIOT提供整体解决方案，实现数据采集和分析。

nIOT能够采集各类传感器，工业控制器、物联网设备、高速采集卡、计算机平台、通讯设备等具备通讯之设备，亦可通过客制化开发采集特殊类型之设备。

nIOT整体解决方案可以预防产品报废，提高良率或提前更换老化及快故障设备零件。

nIOT能够针对客户的定制化需求进行开发，可广泛适配客户的各种场景。

产品特点

1. 实时监控与控制：nIOT系统可以实时监控生产过程的各个参数，例如温度、压强、流速、湿度和粒子污染等，以确保生产条件保持在优化状态。

2. 过程优化：通过分析采集到的数据，生产工程师可以优化工艺参数，提高生产效率和产品质量。

3. 预测性维护：数据分析可以预测设备故障，从而实施维护和修理，避免昂贵的停机时间。

4. 质量控制：nIOT有助于进行统计过程控制（SPC），通过持续监测生产过程参数和产品特性，保证产品质量的一致性和可靠性。

5. 跟踪与追溯：在制造过程中，各个带有晶圆的批次都会被跟踪，确保每个产品可以追踪到其对应的制造过程和所使用的材料。

6. 数据存储和管理：制造过程中产生的大量数据需要被有效地存储和管理，以便于将来的访问、分析和取证。

运用效果（产品效益）

设备故障预防：提前发现并修复潜在的设备问题。

提升良品率：即时调整制程参数，避免大量产品不良。

缩短制造时间：快速响应数据分析结果，减少生产延误。

控制生产成本：更好的材料和维护计划，减少资源浪费

提高产量：优化工艺，减少废品，提高良品率。

降低成本：减少设备维护费用和生产停机时间。

快速创新：基于数据分析加速产品设计和流程改进。